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产品图片 产品名称/型号 产品描述
  • Nicomp 380 Z3000Nicomp380Z3000纳米粒度与zeta电位分析仪
    Nicomp380Z3000纳米粒度与zeta电位分析仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(DynamicLightScattering,DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围0.3nm–10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯(Gaussian)单峰算法和拥有独特技术的Nicomp多峰算法。
  • N3000Nicomp 380 N3000 动态光散射粒度分析仪
    Nicomp380N3000动态光散射粒度分析仪在N3000Standard的基础上进一步升级了大功率激光器,更增加了自动稀释模块。大功率激光器可以增加光强度,APD检测器更是增加了对微小粒子所发出信号的探测能力,独特的自动稀释模块的引入更大大降低了人工的试错成本,为实验室操作人员大大节省了时间成本。利用动态光散射理论,粒径检测范围0.3nm–10μm。
  • NICOMP 380 Z3000Nicomp380Z3000纳米粒径与电位分析仪
    Nicomp380Z3000纳米粒径与电位分析仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用雪崩二极管(APD)检测器和大功率激光器,大功率激光器可以增加光强度,APD检测器更是增加了对微小粒子所发出信号的探测能力。利用动态光散射理论,粒径检测范围0.3nm–10μm。
  • Nicomp 380 Z3000Nicomp 380 N3000 纳米粒度仪
    Nicomp380N3000纳米粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用雪崩二极管(APD)检测器和大功率激光器,大功率激光器可以增加光强度,APD检测器更是增加了对微小粒子所发出信号的探测能力。利用动态光散射理论,粒径检测范围0.3nm–10μm。

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