PSSNicomp380DLS纳米粒度分析仪，采用雪崩二极管（APD）检测器和大功率激光器，大功率激光器可以增加光强度，APD检测器更是增加了对微小粒子所发出信号的探测能力。利用布朗运动及动态光散射理论，粒径检测范围为0.3nm–10μm，可以给出所测样品的粒度分布，纳米级别粒径分布测定更加精准。

Nicomp380N3000纳米粒径仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用雪崩二极管（APD）检测器和大功率激光器，大功率激光器可以增加光强度，APD检测器更是增加了对微小粒子所发出信号的探测能力。利用动态光散射理论，粒径检测范围0.3nm–10μm。

Nicomp380N3000进口激光粒度分析仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用雪崩二极管（APD）检测器和大功率激光器，大功率激光器可以增加光强度，APD检测器更是增加了对微小粒子所发出信号的探测能力。利用动态光散射理论，粒径检测范围0.3nm–10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法和拥有独特技术的Nicomp多峰

Nicomp380Z3000动态光散射仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（DynamicLightScattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（DopplerElectrophoreticLightScattering,DELS）检测ZETA电位。

Nicomp380Z3000动态光散射技术分析仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。

Nicomp380Z3000动态光散射分析仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（DELS）检测ZETA电位。