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激光粒度仪
发布时间:2015-05-18 点击次数:1292次

利用光的衍射现象,即大颗粒产生的衍射角小,小颗粒产生的衍射角大,通过计算检测器上收集到的不同

衍射图形的光强分布,来给出颗粒的粒度大小和粒度分布。



新帕泰克公司激光粒度仪的光路采用平行光路设计




根据在多元检测器上得到的衍射光强的分布,通过颗粒大小和光强分布之间的相关公式来计算得到颗粒的

粒度分布。




在实际测量中,不同形貌的颗粒所产生的衍射图形是不一样的。检测器上所得到的不同光强分布的衍射图

形,已包含了真实颗粒的大小和其形状的信息:





平行光照射在一个球形颗粒上会产生以下几种物理现象:衍射、吸收、折射、反射。













样品输出


样品输入


傅立叶镜头

多元检测器


测试区域


激光扩束器


激光光源


θ

α

β

refraction

reflection

diffraction

particle

absorption

Fraunhofer

(no parameters)

laser light

Mie theory

x

(n-ik necessary)

颗粒大小和光强分布之间的关系:



严格的光散射电磁场理论利用光的电磁波性质,应用麦克斯韦方程对散射颗粒形成的边界条件求解,可以

得到各个光散射物理量。但是严格解法受到许多限制,对于一些复杂问题,如相关散射、复散射、非球形

颗粒等,

至今尚难以给出的结果。

Mie

理论是对处于均匀介质中的各向均匀同性的单个介质球在单色平

行光照射下的麦克斯韦方程边界条件的严格数学解,它是物理光学的一个重要的分支。

(摘自《颗粒粒径的

光学测量技术及应用》-王乃宁等编著,原子能出版社)



新帕泰克公司的激光粒度仪完全符合国际标准

ISO13320

在进行数据处理时,

根据被测物料所满足的条件,

可选择

Fraunhofer

衍射理论或

Mie

散射理论进行处理。



德国新帕泰克激光粒度仪采用模块化设计,根据对不同物料测试的需要,将不同的测试系统(如光学系统)

和不同的分散系统相结合,得到适合测试不同物料的粒度仪。



一台完整的通常由光学系统、分散系统、数据处理系统和进样系统组成。




光学系统




HELOS/BF

系列







适用量程范围

   0.1-875

微米











off-/at-line 

HELOS/KF

系列







适用量程范围

   0.1-8750

微米










off-/at-line 

HELOS/VARIO

系列




适用量程范围

    0.5-8750

微米









off-/at-line 










MYTOS

系列










适用量程范围

   0.25-3500

微米

        on-/in-line 








分散系统











干法分散系统








 RODOS

RODOS/M

GRADIS

MEGARADIS 










干湿二合一分散系统


 OASIS 










湿法分散系统








 QUIXEL

SUCELL

CUVETTE 










气雾剂分散系统






 SPRAYER

INHALER 




数据处理系统:


数据收集和处理软件:

 WINDOX

QT

MIE

REMO&PARA

DV

QX-BASE

QX-PRO 

进样系统:



干法进样系统








 VIBRI

ASPRIROS

TWISTER

ROPRON

INCELL 

湿法进样系统








 SAFIR 





应用领域

:



粉末冶金、硬质合金、稀土、磁性材料、石油、化工、制药、陶瓷、磨料、水泥、电力、电池、

能源、航空、军工、涂料、油墨、颜料、造纸、地质、水文、非金属矿、矿物加工、食品、化


电话:
86-21-50911766
手机:
18964500205

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