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美国PSS粒度仪可以准确记录散射光强信号
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   美国PSS粒度仪可以准确记录散射光强信号  
   美国PSS粒度仪保证了分辨率更高,结果更准确,再现性更好,您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒,而且可以更快地检测到颗粒粒径间极细微的差异。PIDS技术,真正实现10nm粒径测量;新型的干、湿进样模块,“即插即用”,满足不同的分析要求,灵活便利。
   美国PSS粒度仪新一代固体激光光源,无需预热,7万小时以上开机使用寿命,并行式信号采集与传输,确保信号保持高信噪比、无时差、高通量,多波长和偏振光分析技术令粒度分布在宽动态范围内的准确性分析获得高度保障。美国PSS粒度仪多种自动化样品分散系统,“即插即用”,数秒即可完成切换,便利,新一代触摸屏设计分析软件,操作更直观,无需操作经验,简单三步完成测量,直观醒目的导航轮,仅需一步实现数据显示与导出。
   美国PSS粒度仪检测器数量更多,高达132枚独立物理位置检测器,对应高达136个真实数据通道,能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异,确保不缺漏丝毫信息,快速、准确的真实粒度测量。美国PSS粒度仪设计的“X”型对数排布检测器阵列,可以准确记录散射光强信号,不管单峰、多峰,准确分析粒度分布。
   美国PSS粒度仪全自动运算分析功能,多峰自动检测,无需事先猜测峰型,无需选择分析模型,提供客观的报告,PIDS技术提供创新的高分辨率纳米粒度分析功能,真正实现10nm下限峰值测量,不仅可以直接检测小至10nm的颗粒,而且还可以直接检测纳米级的多峰分布。纳米分析功能与微米分析功能合二为一,功能强大,真正10nm的测量可使其作为独立的高分辨率纳米粒度分析仪使用。
   美国PSS粒度仪能对样品的颗粒数目进行量化,打破了科技界以往通过光散射和光衍射方法只能检测均粒径分布的局限,不仅能检测颗粒大小,更能对颗粒进行计数。美国PSS粒度仪这给了研究、生产和质控人员对样品中颗粒的大小、数目一个清晰明了的结果,大大助力于其研发和生产。
 
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