客户咨询热线:
Technical articles技术文章
首页 > 技术文章 >PSS粒度仪于颗粒检测分析

PSS粒度仪于颗粒检测分析

 更新时间:2018-04-04  点击量:2627
Particle Sizing System (美国PSS粒度仪公司)是一家专注于帮客 户解决粒度问题近40年的科技公司,公司总部位于美国佛罗里达州圣巴巴拉市,公司自1977年创 立以来,一直为颗粒检测分析领域提供技术的仪器设备。
 
公司总部位于加利福尼亚洲的圣巴巴拉,有5个应用中心或销售代表处 分布在世界各地,每个中心或代表处都配备应用/、销售和服务人员。此外,我们还有40多个 分销商或销售代理公司遍布在美国、欧洲及亚洲各地。
 
PSS生产的颗粒检测和分析仪器分别采用动态光散射技术(dynamic light scattering, DLS)和光阻法(Light obscuration or light extinction,  也有人称之 为“消光法",)技术以及的单颗粒(Single Particle Optical Sizing, SPOS)技 术,检测范围从纳米到微米级,既可以检测平均粒径,zeta电位值,又可以对产品中的颗粒进行计数 ,尤其对于其他光散射或者光衍射方法检测不到的极少数的大粒子(Large Particle Count, LPC), 可以地检测出。目前PSS粒度仪是市场上*一家能够提供高分辨率的自动单颗粒技术的粒径分析仪。
 
PSS*的单颗粒(SPOS)技术,能对样品的颗粒数目进行量化, 打破了科技界以往通过光散射和光衍射方法只能检测均粒径分布的局限,不仅能检测颗粒大小,更能 对颗粒进行计数。这给了研究、生产和质控人员对样品中颗粒的大小、数目一个清晰明了的结果,大 大助力于其研发和生产。
 
PSS的团队由科学家和工程师组成,可以提供从实验室到生产流水线的多种技术解决方案。如果您有粒度检测、分析或颗粒度问题困扰,欢迎随时来函来电垂询。